残余应力测量系统；

   WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其先进的的光子晶体制造技术开发的应力测量产品。应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理，通过对样品的光程差的定量测定，确定样品应力双折射的大小。通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以进行几千nm范围内的相位差测量。

双折射测试系统特征；

1、操作便捷，测量速度可以快到3秒，一次测量，全面掌握应力分布

2、精度高、范围大、可测数千nm高相位差分布

3、测量数据可以是二维拟合图像，直观可视。

4、具有多种结果分析功能和测量结果的对比。

5、结构稳定、维护简单，无须调光路。

应力测量系统WPA-200-L的主要应用

·         光学零件（镜片、薄膜、导光板）

·         透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

·         透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL）

·         透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

·         有机材料（球晶、FishEve）

参数指标