显微镜型相位差测量仪

WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其先进的光子晶体制造技术开发的内应力测量测试系统；适用于高相位差样品的显微表征，针对钢化玻璃和光学薄膜剖面的残余应力评估，亦可用于测量球晶、金属晶体的应力检测等。

相位差测量仪特点

操作简单，测量速度可以快到3秒，

采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。

测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。  

具有多种分析功能和测量结果的比较。

稳定可靠

WPA-micro主要应用

·         钢化玻璃和光学薄膜等研发工具。

·         球晶、金属微纳晶体等。

·         高分子结晶。

参数指标